Keithley 2510 Tec SourceMeter
Använd vår chatt för personlig support. Eller kontakta oss via +45 31 33 18 19 eller salg@GOmeasure.dk
- Kanaler - 1
- Max strömkälla/mätområde - 5A
- Max spänningskälla/mätområde - 10V
- Effekt - 50 W
Upptäck möjligheterna
Mer information
Beskrivning
Keithley 2510 TEC Sourcemeter
Modellerna Keithley 2510 och 2510-AT TEC Sourcemeter SMU-instrument förbättrar Keithleys CW (Continuous Wave) testlösning för höghastighets LIV (lättströmsspänning) testning av laserdiodmoduler. Dessa 50W bipolära instrument utvecklades i nära samarbete med ledande tillverkare av laserdiodmoduler för fiberoptiska telekommunikationsnätverk. Model 2510 var utformad för att säkerställa en tät temperaturkontroll för enheten som testades och var den första i en rad med hög specialiserade instrument skapade för telekommunikationslaserdiodtest. Det förenar Keithleys expertis inom höghastighets DC-sourcing och mätning med förmågan att kontrollera driften av en laserdiodmoduls termo-elektriska kylare eller TEC (ibland kallad en peltier-enhet) exakt.
Keithley-instrumentering gör det enkelt att bygga ett LIV-system (lättströmsspänning) för att testa laserdiodmoduler kostnadseffektivt.
- 2520 Pulse Laser Diode Test System: Synkronisering av testsystem som ger inköp och mätförmåga för pulserat och kontinuerligt LIV -test.
- TEC Sourcemeter SMU, 2510 och 2510-AT: Se till att tät temperaturkontroll för laserdiodmoduler genom att kontrollera dess termoelektriska kylare.
Drag | Gynn |
| Aktiv temperaturkontroll | Förhindrar temperaturvariationer som kan leda till att laserdiodens dominerande utgångsvåglängd förändras, vilket leder till signalöverlappning och övergångsproblem. |
| 50W TEC -styrenhet | Möjliggör högre testhastigheter och ett bredare temperatur börvärde än andra lösningar med lägre effekt. |
| Helt digital P-I-D-kontroll | Ger större temperaturstabilitet och kan enkelt uppgraderas med en enkel firmwareförändring. |
| Autotuing-kapacitet för den termiska kontrollslingan (2510-AT) | Eliminerar behovet av att använda försök-och-fel-experiment för att bestämma den bästa kombinationen av P-, I- och D-koefficienter. |
| Bred temperatur börvärde (–50 ° C till +225 ° C) och hög börvärdupplösning (± 0,001 ° C) och stabilitet (± 0,005 ° C) | Täcker de flesta av testkraven för produktionstest av kylda optiska komponenter och undermontering. |
| Kompatibel med olika temperatursensorsångar - Thermistors, RTD och IC -sensorer | Arbetar med de typer av temperatursensorer som oftast används i ett brett spektrum av laserdiodmoduler. |
| AC Ohms mätfunktion | Verifierar TEC -enhetens integritet. |
| 4-tråds öppen/kort blydetektering för termisk återkopplingselement | Eliminerar blymotståndsfel på det uppmätta värdet, vilket minskar möjligheten till falska fel eller enhetsskador. |
För mer information:Tektronix
Dokument
Alternativ
Video
Keithley 2510 TEC Sourcemeter
Modellerna Keithley 2510 och 2510-AT TEC Sourcemeter SMU-instrument förbättrar Keithleys CW (Continuous Wave) testlösning för höghastighets LIV (lättströmsspänning) testning av laserdiodmoduler. Dessa 50W bipolära instrument utvecklades i nära samarbete med ledande tillverkare av laserdiodmoduler för fiberoptiska telekommunikationsnätverk. Model 2510 var utformad för att säkerställa en tät temperaturkontroll för enheten som testades och var den första i en rad med hög specialiserade instrument skapade för telekommunikationslaserdiodtest. Det förenar Keithleys expertis inom höghastighets DC-sourcing och mätning med förmågan att kontrollera driften av en laserdiodmoduls termo-elektriska kylare eller TEC (ibland kallad en peltier-enhet) exakt.
Keithley-instrumentering gör det enkelt att bygga ett LIV-system (lättströmsspänning) för att testa laserdiodmoduler kostnadseffektivt.
- 2520 Pulse Laser Diode Test System: Synkronisering av testsystem som ger inköp och mätförmåga för pulserat och kontinuerligt LIV -test.
- TEC Sourcemeter SMU, 2510 och 2510-AT: Se till att tät temperaturkontroll för laserdiodmoduler genom att kontrollera dess termoelektriska kylare.
Drag | Gynn |
| Aktiv temperaturkontroll | Förhindrar temperaturvariationer som kan leda till att laserdiodens dominerande utgångsvåglängd förändras, vilket leder till signalöverlappning och övergångsproblem. |
| 50W TEC -styrenhet | Möjliggör högre testhastigheter och ett bredare temperatur börvärde än andra lösningar med lägre effekt. |
| Helt digital P-I-D-kontroll | Ger större temperaturstabilitet och kan enkelt uppgraderas med en enkel firmwareförändring. |
| Autotuing-kapacitet för den termiska kontrollslingan (2510-AT) | Eliminerar behovet av att använda försök-och-fel-experiment för att bestämma den bästa kombinationen av P-, I- och D-koefficienter. |
| Bred temperatur börvärde (–50 ° C till +225 ° C) och hög börvärdupplösning (± 0,001 ° C) och stabilitet (± 0,005 ° C) | Täcker de flesta av testkraven för produktionstest av kylda optiska komponenter och undermontering. |
| Kompatibel med olika temperatursensorsångar - Thermistors, RTD och IC -sensorer | Arbetar med de typer av temperatursensorer som oftast används i ett brett spektrum av laserdiodmoduler. |
| AC Ohms mätfunktion | Verifierar TEC -enhetens integritet. |
| 4-tråds öppen/kort blydetektering för termisk återkopplingselement | Eliminerar blymotståndsfel på det uppmätta värdet, vilket minskar möjligheten till falska fel eller enhetsskador. |
För mer information:Tektronix